창고: HONGKONG
날짜 코드: 최신 Date Code
제조업체 표준 리드 타임: 6 주
내부 부품 번호 | EIS-RG1608P-3922-B-T5 | |
무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 무연 / RoHS 준수 | |
수분 민감도 레벨(MSL) | 1(무제한) | |
생산 현황 (라이프 사이클) | 생산 중 | |
지위 | 새로운, 원래는 봉인 | |
규격서 | RG Series | |
제품 교육 모듈 | Intro to Thin Film Chip Resistors Severe Environmental & Sulfur Resistant Chip | |
주요제품 | RG Series - Thin Film Chip Resistors | |
EDA/CAD 모델 | Accelerated Designs에서 다운로드 | |
카탈로그 페이지 | 2210 (KR2011-KO PDF) | |
종류 | 저항기 | |
제품군 | 칩 저항기 - 표면실장(SMD, SMT) | |
제조업체 | Susumu | |
계열 | RG | |
포장 | 테이프 및 릴(TR) | |
부품 현황 | * | |
저항(옴) | 39.2k | |
허용 오차 | ±0.1% | |
전력(와트) | 0.1W, 1/10W | |
구성 | 박막 | |
특징 | 자동차 AEC-Q200 | |
온도 계수 | ±25ppm/°C | |
작동 온도 | -55°C ~ 155°C | |
패키지/케이스 | 0603(1608 미터법) | |
공급 장치 패키지 | 0603 | |
크기/치수 | 0.063" L x 0.031" W(1.60mm x 0.80mm) | |
높이 | 0.020"(0.50mm) | |
종단 개수 | 2 | |
표준 포장 | 5,000 | |
다른 이름 | RG1608P3922BT5 RG16P39.2KBTR | |
무게 | 0.001 KG | |
신청 | 자세한 내용은 이메일 | |
대체 부품 (교체) | RG1608P-3922-B-T5 | |
관련 링크 | RG1608P-39, RG1608P-3922-B-T5 데이터 시트, Susumu 에이전트 유통 |
![]() | HCM494000000ABKT | 4MHz ±30ppm 수정 20pF 150옴 -10°C ~ 60°C 표면실장(SMD, SMT) HC49/US | HCM494000000ABKT.pdf | |
![]() | RM3216B-102/203-PBVW10 | RES ARRAY 2 RES MULT OHM 1206 | RM3216B-102/203-PBVW10.pdf | |
![]() | TAJB226K010SNJ | TAJB226K010SNJ AVX B | TAJB226K010SNJ.pdf | |
![]() | N710008CFMRWO | N710008CFMRWO ORIGINAL SOP | N710008CFMRWO.pdf | |
![]() | MVR22 HXBR N471 2X2 470R | MVR22 HXBR N471 2X2 470R ROHM SMD or Through Hole | MVR22 HXBR N471 2X2 470R.pdf | |
![]() | S-8328H55MC-FZJ-T2 | S-8328H55MC-FZJ-T2 SEIKO SMD or Through Hole | S-8328H55MC-FZJ-T2.pdf | |
![]() | K1V18-4000 | K1V18-4000 SHINDENGEN SMD or Through Hole | K1V18-4000.pdf | |
![]() | DG408L | DG408L SILICONI TSSOP-16 | DG408L.pdf | |
![]() | TZX16C | TZX16C ORIGINAL SMD or Through Hole | TZX16C.pdf | |
![]() | 2SA1052 / MC | 2SA1052 / MC HITACHI SOT-23 | 2SA1052 / MC.pdf | |
![]() | E7501MC-SL6NV | E7501MC-SL6NV INTEL BGA | E7501MC-SL6NV.pdf | |
![]() | LWQ130-5FF4 | LWQ130-5FF4 LAMBDA SMD or Through Hole | LWQ130-5FF4.pdf |