창고: HONGKONG
날짜 코드: 최신 Date Code
제조업체 표준 리드 타임: 6 주
| 내부 부품 번호 | EIS-EEE-2AA4R7P | |
| 무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 무연 / RoHS 준수 | |
| 수분 민감도 레벨(MSL) | 1(무제한) | |
| 생산 현황 (라이프 사이클) | 생산 중단 제품 / 단종 | |
| 지위 | 새로운, 원래는 봉인 | |
| 규격서 | S Series, Type V | |
| PCN 단종/ EOL | Multiple Lytics Devices 03/Jul/2013 | |
| EDA/CAD 모델 | Accelerated Designs에서 다운로드 | |
| 카탈로그 페이지 | 1930 (KR2011-KO PDF) | |
| 종류 | 커패시터 | |
| 제품군 | 알루미늄 커패시터 | |
| 제조업체 | Panasonic Electronic Components | |
| 계열 | 자동차, AEC-Q200, S | |
| 포장 | 테이프 및 릴(TR) | |
| 정전 용량 | 4.7µF | |
| 허용 오차 | ±20% | |
| 정격 전압 | 100V | |
| 등가 직렬 저항(ESR) | - | |
| 수명 @ 온도 | 2000시간(85°C) | |
| 작동 온도 | -40°C ~ 85°C | |
| 분극 | 극성 | |
| 응용 제품 | 범용 | |
| 리플 전류 | 80mA @ 120Hz | |
| 임피던스 | - | |
| 리드 간격 | - | |
| 크기/치수 | 0.315" Dia(8.00mm) | |
| 높이 - 장착(최대) | 0.402"(10.20mm) | |
| 표면 실장 면적 크기 | 0.327" L x 0.327" W(8.30mm x 8.30mm) | |
| 실장 유형 | 표면실장(SMD, SMT) | |
| 패키지/케이스 | 레이디얼, Can - SMD | |
| 표준 포장 | 500 | |
| 다른 이름 | EEE2AA4R7P PCE3971TR | |
| 무게 | 0.001 KG | |
| 신청 | 자세한 내용은 이메일 | |
| 대체 부품 (교체) | EEE-2AA4R7P | |
| 관련 링크 | EEE-2A, EEE-2AA4R7P 데이터 시트, Panasonic Electronic Components 에이전트 유통 | |
![]() | MA-306 32.0000M-C3: ROHS | 32MHz ±50ppm 수정 18pF 60옴 -20°C ~ 70°C 표면실장(SMD, SMT) 4-SMD, J-리드(Lead) | MA-306 32.0000M-C3: ROHS.pdf | |
![]() | AC0805FR-07510KL | RES SMD 510K OHM 1% 1/8W 0805 | AC0805FR-07510KL.pdf | |
![]() | SM840C | SM840C ORIGINAL SMC | SM840C.pdf | |
![]() | Q5402 | Q5402 QTC DIP8 SOP8 | Q5402.pdf | |
![]() | AM2901CDC. | AM2901CDC. ORIGINAL DIP | AM2901CDC..pdf | |
![]() | IML7512DB | IML7512DB iML SMD or Through Hole | IML7512DB.pdf | |
![]() | SPH-1R2JT/R | SPH-1R2JT/R IRC SMD or Through Hole | SPH-1R2JT/R.pdf | |
![]() | 2520-7nH | 2520-7nH ORIGINAL SMD or Through Hole | 2520-7nH.pdf | |
![]() | HD6435328F55CP | HD6435328F55CP HIT PLCC84 | HD6435328F55CP.pdf | |
![]() | UPD75P108G | UPD75P108G NEC QFP | UPD75P108G.pdf | |
![]() | YCH-Q2W | YCH-Q2W ORIGINAL SMD or Through Hole | YCH-Q2W.pdf | |
![]() | AA08BNA3 | AA08BNA3 HONEYWELL PROXIMITYSWITCHM8 | AA08BNA3.pdf |