창고: HONGKONG
날짜 코드: 최신 Date Code
제조업체 표준 리드 타임: 6 주
| 내부 부품 번호 | EIS-CSD25481F4 | |
| 무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 무연 / RoHS 준수 | |
| 수분 민감도 레벨(MSL) | 1(무제한) | |
| 생산 현황 (라이프 사이클) | 생산 중 | |
| 지위 | 새로운, 원래는 봉인 | |
| 규격서 | CSD25481F4 | |
| PCN 설계/사양 | DSBGA/uSIP 22/Jun/2016 | |
| PCN 조립/원산지 | Assembly/Test Site Transfer 19/Dec/2014 | |
| 제조업체 제품 페이지 | CSD25481F4 Specifications | |
| 종류 | 이산 소자 반도체 제품 | |
| 제품군 | FET - 단일 | |
| 제조업체 | Texas Instruments | |
| 계열 | NexFET™ | |
| 포장 | 테이프 및 릴(TR) | |
| 부품 현황 | 유효 | |
| FET 유형 | MOSFET P-Chan, 금속 산화물 | |
| FET 특징 | 표준 | |
| 드레인 - 소스 전압(Vdss) | 20V | |
| 전류 - 연속 드레인(Id) @ 25°C | 2.5A(Ta) | |
| Rds On(최대) @ Id, Vgs | 88m옴 @ 500mA, 8V | |
| Id 기준 Vgs(th)(최대) | 1.2V @ 250µA | |
| 게이트 전하(Qg) @ Vgs | 0.913nC(4.5V) | |
| 입력 정전 용량(Ciss) @ Vds | 189pF @ 10V | |
| 전력 - 최대 | 500mW | |
| 작동 온도 | -55°C ~ 150°C(TJ) | |
| 실장 유형 | 표면실장(SMD, SMT) | |
| 패키지/케이스 | 3-XFDFN | |
| 공급 장치 패키지 | 3-PICOSTAR | |
| 표준 포장 | 3,000 | |
| 다른 이름 | 296-40006-2 CSD25481F4-ND | |
| 무게 | 0.001 KG | |
| 신청 | 자세한 내용은 이메일 | |
| 대체 부품 (교체) | CSD25481F4 | |
| 관련 링크 | CSD254, CSD25481F4 데이터 시트, Texas Instruments 에이전트 유통 | |
| 0034.6020 | FUSE BOARD MOUNT 4A 250VAC RAD | 0034.6020.pdf | ||
![]() | R413F1470DQM1K | R413F1470DQM1K KEMET SMD or Through Hole | R413F1470DQM1K.pdf | |
![]() | 53C040 | 53C040 ORIGINAL BGA | 53C040.pdf | |
![]() | QL3025-1PB256C | QL3025-1PB256C QUICKLOGIC BGA | QL3025-1PB256C.pdf | |
![]() | TMS320C18PGL | TMS320C18PGL TI QFP | TMS320C18PGL.pdf | |
![]() | LTP-2558AA-RD | LTP-2558AA-RD LITEON ROHS | LTP-2558AA-RD.pdf | |
![]() | AM79R793JC | AM79R793JC AMD SMD or Through Hole | AM79R793JC.pdf | |
![]() | S80823CNY | S80823CNY SEIKO TO-92 | S80823CNY.pdf | |
![]() | 4DI30A-050 | 4DI30A-050 FUJI SMD or Through Hole | 4DI30A-050.pdf | |
![]() | TS9001JEEV | TS9001JEEV TS SOT23-5 | TS9001JEEV.pdf | |
![]() | 1.30240.1210400 | 1.30240.1210400 C&K SMD or Through Hole | 1.30240.1210400.pdf | |
![]() | FDZ209N | FDZ209N FAIRCHILD BGA | FDZ209N.pdf |