창고: HONGKONG
날짜 코드: 최신 Date Code
제조업체 표준 리드 타임: 5 주
| 내부 부품 번호 | EIS-BQ2650X-TESTER | |
| 무연 여부 / RoHS 준수 여부 | 무연 / RoHS 준수 | |
| 수분 민감도 레벨(MSL) | 1(무제한) | |
| 생산 현황 (라이프 사이클) | 생산 중 | |
| 시리즈 | BQ2650X-TESTER | |
| EDA/CAD 모델 | - | |
| 종류 | 전자 부품 | |
| 공차 | - | |
| 풍모 | - | |
| 작동 온도 | - | |
| 정격 전압 | - | |
| 정격 전류 | - | |
| 최종 제품 | - | |
| 포장 종류 | SMD or Through Hole | |
| 무게 | 0.001 KG | |
| 대체 부품 (교체) | BQ2650X-TESTER | |
| 관련 링크 | BQ2650X-, BQ2650X-TESTER 데이터 시트, - 에이전트 유통 | |
![]() | GRT21BR61E475MA02L | 4.7µF 25V 세라믹 커패시터 X5R 0805(2012 미터법) 0.079" L x 0.049" W(2.00mm x 1.25mm) | GRT21BR61E475MA02L.pdf | |
![]() | T95D227M010EZSS | 220µF Conformal Coated Tantalum Capacitors 10V 2917 (7343 Metric) 140 mOhm 0.293" L x 0.170" W (7.44mm x 4.32mm) | T95D227M010EZSS.pdf | |
![]() | S0402-47NF2S | 47nH Unshielded Wirewound Inductor 150mA 830 mOhm Max 0402 (1005 Metric) | S0402-47NF2S.pdf | |
![]() | APXK004A0X4-SRZ | APXK004A0X4-SRZ LINEAGE SMD or Through Hole | APXK004A0X4-SRZ.pdf | |
![]() | R6562AP | R6562AP ORIGINAL DIP | R6562AP.pdf | |
![]() | 4076746-400 | 4076746-400 RAY CDIP | 4076746-400.pdf | |
![]() | BIN5 | BIN5 ORIGINAL SSOP | BIN5.pdf | |
![]() | CMA020450BLF110K | CMA020450BLF110K BEYSCHLAG SMD or Through Hole | CMA020450BLF110K.pdf | |
![]() | IRFZ34NPBF-Korea | IRFZ34NPBF-Korea IR TO-220 | IRFZ34NPBF-Korea.pdf | |
![]() | MG87FE2051AE | MG87FE2051AE MEGAWIN/ DIP20 | MG87FE2051AE.pdf | |
![]() | CIM05F750NC | CIM05F750NC SAMSUNG SMD | CIM05F750NC.pdf |